El análisis de superficie por (XPS) Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos-x de películas delgadas policristalinas del compuesto Cu2ZnSnS4 fueron sintetizadas empleando la técnica (PVD) Physical Vapor Deposition, partiendo de los precursores metálicos en atmosfera de Azufre en un proceso de co-evaporación de tres etapas. Las energías de enlace a 161.5 eV, 486.1 eV, 932.4 eV y 1021.6 eV fueron encontradas para S 2p3/2, Sn 3d5/2, Cu 2p3/2 y Zn 2p3/2 respectivamente. Los análisis SEM y EDAX dan evidencia de la morfología y la composición elemental de la fase Kesterita CZTS con pérdidas de Sn reflejándose en una composición global pobre en Cu y rica en Zn.