En este trabajo se presenta un análisis teórico de la eficiencia de difracción en cristales silenitas tipo BTO, para redes móviles de transmisión, teniendo en cuenta los efectos de acoplamiento [1-5]. En el caso del acoplamiento degenerado en los materiales fotorrefractivos, la eficiencia de difracción depende del espesor del cristal, el coeficiente de acoplamiento y la razón de intensidad de los haces de registro. Por otra parte, en el caso cuasi-degenerado la eficiencia además de depender de los parámetros ya mencionados también depende del tiempo de respuesta del medio fotorrefractivos [6]. Este tiempo de respuesta es función de la razón de concentración del material[7], es decir de la relación entre el número de aceptores y donores. La eficiencia de difracción surge de la solución de las ecuaciones acopladas en el régimen on-Bragg empleando el método de Runge-Kutta, implementado en Matlab. En el análisis se considera la no uniformidad de las redes dentro del cristal, la razón de concentración del material y la diferencia de frecuencia de registro.

En este trabajo se presenta un análisis teórico de la eficiencia de difracción en cristales silenitas tipo BTO, para redes móviles de transmisión, teniendo en cuenta los efectos de acoplamiento [1-5]. En el caso del acoplamiento degenerado en los materiales fotorrefractivos, la eficiencia de difracción depende del espesor del cristal, el coeficiente de acoplamiento y la razón de intensidad de los haces de registro. Por otra parte, en el caso cuasi-degenerado la eficiencia además de depender de los parámetros ya mencionados también depende del tiempo de respuesta del medio fotorrefractivos [6]. Este tiempo de respuesta es función de la razón de concentración del material[7], es decir de la relación entre el número de aceptores y donores. La eficiencia de difracción surge de la solución de las ecuaciones acopladas en el régimen on-Bragg empleando el método de Runge-Kutta, implementado en Matlab. En el análisis se considera la no uniformidad de las redes dentro del cristal, la razón de concentración del material y la diferencia de frecuencia de registro.